滤膜残留物用于sem-eds和o-ptir分析，滤液经冻干后用于dls和maldi-tof ms检测。o-ptir技术首次应用于人体组织样本，可在反射模式下以6.6 cm-1 分辨率识别亚微米级聚合物。 【研究结果】 光学显微镜筛查 ...

(美国商业资讯)-- JEOL Ltd.（TOKYO：6951）（总裁兼首席执行官：Izumi Oi）宣布将于2024年7月28日发布新款Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope JSM-IT810。

达尔宗湖黑碳样品扫描电镜图(SEM)与能量色散光谱图(EDS) (IMAGE) Science China Press ...